Scanning Probe Microscopy

Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
de

,

Éditeur :

Springer

Collection : NanoScience and Technology

Paru le : 2006-10-14

Scanning Probe Microscopy is a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Writing in a tutorial style, the authors explain from scratch the theory behind today’s simulation techniques and give examp...
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À propos


Éditeur


Parution
2006-10-14

Pages
282 pages

EAN papier
9780387400907

Auteur(s) du livre



Caractéristiques détaillées - droits

EAN PDF
9780387372310
Prix
148,39 €
Nombre pages copiables
2
Nombre pages imprimables
28
Taille du fichier
7762 Ko

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