Lifetime Spectroscopy

A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
de

Paru le : 2005-11-25

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. Th...
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Louise Reader

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À propos

Auteur

Éditeur


Parution
2005-11-25

Pages
492 pages

EAN papier
9783540253037

Auteur(s) du livre



Caractéristiques détaillées - droits

EAN PDF
9783540279228
Prix
306,34 €
Nombre pages copiables
4
Nombre pages imprimables
49
Taille du fichier
7813 Ko

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