Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

de

, ,

Éditeur :

Wiley-ISTE

Paru le : 2016-08-16

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis w...
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À propos


Éditeur

Collection
n.c

Parution
2016-08-16

Pages
320 pages

EAN papier
9781848219366


Caractéristiques détaillées - droits

EAN PDF
9781119329657
Prix
163,47 €
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
320
Taille du fichier
10476 Ko
EAN EPUB
9781119329688
Prix
163,47 €
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
320
Taille du fichier
7148 Ko

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